Репозитарій КНУ
Увійти(current)
  1. Головна
  2. Наукова періодика | Scientific periodicals
  3. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія | Bulletin of Taras Shevchenko National University of Kyiv. Astronomy
  4. 2016
  5. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія. Вип. 1(53)
  6. Мікролінзування протяжними структурами зі сферично-симетричним розподілом маси

Мікролінзування протяжними структурами зі сферично-симетричним розподілом маси

Тип публікації :
Стаття
Дата випуску :
2016
Автор(и) :
Жданов, Валерій Іванович  
Відділ астрофізики  
Александров, О. М.
Київський національний університет імені Тараса Шевченка  
Сташко, О. С.
Київський національний університет імені Тараса Шевченка  
Мова основного тексту :
Ukrainian
eKNUTSHIR URL :
https://ir.library.knu.ua/handle/15071834/22527
DOI :
10.17721/BTSNUA.2016.53.29-32
Журнал :
Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія  
Випуск :
1(53)
ISSN :
1728-273х
Початкова сторінка :
29
Кінцева сторінка :
32
Цитування :
[APA 7] Жданов, В. І., Александров, О. М., & Сташко, О. С. (2016). Мікролінзування протяжними структурами зі сферично-симетричним розподілом маси. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія, (1(53)), 29–32. https://doi.org/10.17721/BTSNUA.2016.53.29-32
[ДСТУ] Жданов В. І., Александров О. М., Сташко О. С. Мікролінзування протяжними структурами зі сферично-симетричним розподілом маси. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія. 2016. № 1(53). С. 29—32. DOI: 10.17721/BTSNUA.2016.53.29-32 (дата звернення: 25.07.2026).
Розглянуто мікролінзування точкового віддаленого джерела на одиночних протяжних структурах, що можуть представляти згустки темної матерії, з сферично-симетричним розподілом маси без особливості у центрі. Проведено аналітичний аналіз лінзового відображення, визначено області параметрів, що відповідають різній кількості зображень точкового джерела. Розраховано залежності коефіцієнту підсилення від часу (криві підсилення), що вини кають при відносному русі джерела та мікролінзи. Показано, що для широкого діапазону параметрів криві підсилення протяжної мікролінзи важко відрізнити від аналогічних кривих в стандартній моделі точкової мікролінзи на сучасному рівні фотометричної точності.
Галузі знань та спеціальності :
10 Природничі науки::104 Фізика та астрономія
Галузі науки і техніки (FOS) :
Фізичні науки
Файл(и) :
Вантажиться...
Ескіз
Завантажити
Формат :

Adobe PDF

Розмір :

327.56 KB

Контрольна сума :

(MD5):118ad5259c52e7b8afd4713b7b06aa62

Creative Commons Attribution 4.0 International
Якщо не вказано інше, ця робота розповсюджується на умовах ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International
Контакти
  • ir.library@knu.ua
  • (044) 239-33-30
  • м. Київ, вул. Володимирська, 58, к. 42

Побудовано за допомогою Програмне забезпечення DSpace-CRIS - Розширення підтримується та оптимізується 4Наука

  • Доступність
  • Політика приватності
  • Угода користувача
  • Надіслати відгук