Репозитарій КНУ
  • Yкраї́нська
  • English
  • Увійти
    Новий користувач? Зареєструйтесь.Забули пароль?
Репозитарій КНУ
  • Фонди & Зібрання
  • Статистика
  • Yкраї́нська
  • English
  • Увійти
    Новий користувач? Зареєструйтесь.Забули пароль?
  1. Головна
  2. Наукова періодика | Scientific periodicals
  3. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія | Bulletin of Taras Shevchenko National University of Kyiv. Astronomy
  4. 2016
  5. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія. Вип. 1(53)
  6. Мікролінзування протяжними структурами зі сферично-симетричним розподілом маси
 
  • Деталі
Параметри

Мікролінзування протяжними структурами зі сферично-симетричним розподілом маси

Тип публікації :
Стаття
Дата випуску :
2016
Автор(и) :
Жданов, Валерій Іванович orcid-logo
Відділ астрофізики 
Александров, О. М.
Київський національний університет імені Тараса Шевченка 
Сташко, О. С.
Київський національний університет імені Тараса Шевченка 
Мова основного тексту :
Ukrainian
eKNUTSHIR URL :
https://ir.library.knu.ua/handle/15071834/22527
DOI :
10.17721/BTSNUA.2016.53.29-32
Журнал :
Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія 
Випуск :
1(53)
ISSN :
1728-273х
Початкова сторінка :
29
Кінцева сторінка :
32
Цитування :
Жданов, В. І., Александров, О. М., & Сташко, О. С. (2016). Мікролінзування протяжними структурами зі сферично-симетричним розподілом маси. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія, 1(53), 29–32. https://doi.org/10.17721/BTSNUA.2016.53.29-32
Розглянуто мікролінзування точкового віддаленого джерела на одиночних протяжних структурах, що можуть представляти згустки темної матерії, з сферично-симетричним розподілом маси без особливості у центрі. Проведено аналітичний аналіз лінзового відображення, визначено області параметрів, що відповідають різній кількості зображень точкового джерела. Розраховано залежності коефіцієнту підсилення від часу (криві підсилення), що вини кають при відносному русі джерела та мікролінзи. Показано, що для широкого діапазону параметрів криві підсилення протяжної мікролінзи важко відрізнити від аналогічних кривих в стандартній моделі точкової мікролінзи на сучасному рівні фотометричної точності.
Галузі знань та спеціальності :
104 Фізика та астрономія
Галузі науки і техніки (FOS) :
Фізичні науки
Тип зібрання :
Publication
Файл(и) :
Вантажиться...
Ескіз
Формат

Adobe PDF

Розмір :

327.56 KB

Контрольна сума:

(MD5):118ad5259c52e7b8afd4713b7b06aa62

Ця робота розповсюджується на умовах ліцензії Creative Commons CC BY

Налаштування куків Політика приватності Угода користувача Надіслати відгук

Побудовано за допомогою Програмне забезпечення DSpace-CRIS - Розширення підтримується та оптимізується 4Наука

м. Київ, вул. Володимирська, 58, к. 42

(044) 239-33-30

ir.library@knu.ua