Репозитарій КНУ
Увійти(current)
  1. Головна
  2. Матеріали конференцій | Conference materials
  3. Тези конференцій | Conference papers
  4. Photoluminescence and absorption properties of the surface functional layer of CdTe crystals

Photoluminescence and absorption properties of the surface functional layer of CdTe crystals

Тип публікації :
Тези конференції
Дата випуску :
24 жовтня 2012 р.
Автор(и) :
Gnatyuk, Dmytro
Aalto University
Poperenko, Leonid  
Taras Shevchenko National University of Kyiv
Yurgelevych, Iryna
Taras Shevchenko National University of Kyiv
Datsenko, Oleksandr 
Київський національний університет імені Тараса Шевченка  
Aoki, Toru
ANSeeN Inc., Shizuoka University
Kimura, Manato
Науковий(і) керівник(и)/редактор(и) :
Ralph B. James
Arnold Burger
Larry A. Franks
Michael Fiederle
Мова основного тексту :
Англійська
eKNUTSHIR URL :
https://ir.library.knu.ua/handle/15071834/8433
DOI :
10.1117/12.940764
Журнал :
Proceedings of SPIE
Конференція/Видання :
Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XIV. Proceedings of SPIE
Том :
8507
ISSN :
0277-786X
Цитування :
[APA 7] Gnatyuk, D., Poperenko, L., Yurgelevych, I., Datsenko, O., Aoki, T., & Kimura, M. (2012). Photoluminescence and absorption properties of the surface functional layer of CdTe crystals. In B. J. Ralph, B. Arnold, A. F. Larry, & F. Michael (Eds.), Proceedings of SPIE. https://doi.org/10.1117/12.940764
[ДСТУ] Photoluminescence and absorption properties of the surface functional layer of CdTe crystals / D. Gnatyuk et al. Proceedings of SPIE : матеріали конф. / за ред. B. J. Ralph, B. Arnold, A. F. Larry, F. Michael. Kyiv : SPIE, 2012. DOI: 10.1117/12.940764 (date of access: 17.07.2026).
Photoluminescence and optical properties of the surface functional layer of detector-grade Cl-compensated semiconductor CdTe(111) single crystals modified by chemical etching and nanosecond laser processing have been studied. A bromine-methanol solution was used for polishing etching and nanosecond pulses of the second harmonic of YAG:Nd laser was applied as a radiation source. The photoluminescence spectra were excited at 80 K by an argon-ion laser with wavelength of 488 nm. The intrinsic emission band at 1.56 eV and broad defect band peaked at 1.45 eV were observed in the spectra before and after chemical and laser processing of CdTe crystals. The emission between 1.4-1.5 eV was associated with carrier recombination at defects in the surface region, so called the band of surface states. The optical parameters were determined using an ellipsometer with laser wavelength of 632.8 nm. Refraction n and absorption k indices were calculated within model of a homogeneous absorbing surface layer upon an absorbing substrate. An increase in n and k was observed at laser irradiation with energy density near or higher than the CdTe melting threshold that was attributed to an increase in volume fraction of Te in the surface region of the crystal. A decrease in the emission intensity at 1.45 eV was evidence of a reduction of the surface impurity contribution to the spectrum as a result of chemical etching. A rise of this band after irradiation was due of formation of point defects and dislocations in a surface layer of the crystal.
Ключові слова :
CdTe crystals surface layer chemical etching laser irradiation photoluminescence ellipsometry optical indices
Галузі знань та спеціальності :
10 Природничі науки::104 Фізика та астрономія
Галузі науки і техніки (FOS) :
Оптика
Файл(и) :
Вантажиться...
Ескіз
Формат :

Adobe PDF

Розмір :

250.44 KB

Контрольна сума :

(MD5):371f2279df9a6929c6be417bd8ba1537

Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International
Якщо не вказано інше, ця робота розповсюджується на умовах ліцензії Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International
Контакти
  • ir.library@knu.ua
  • (044) 239-33-30
  • м. Київ, вул. Володимирська, 58, к. 42

Побудовано за допомогою Програмне забезпечення DSpace-CRIS - Розширення підтримується та оптимізується 4Наука

  • Доступність
  • Політика приватності
  • Угода користувача
  • Надіслати відгук