Параметри
Lateral photoconductivity of GeSn alloys
Тип публікації :
Тези конференції
Дата випуску :
5 березня 2021 р.
Автор(и) :
Derenko, Serhii
Taras Shevchenko National University of Kyiv
Datsenko, Oleksandr
Mazur, Yuriy
Institute of Nano Science and Engineering, University of Arkansas
Shui-Qing Yu
Department of Electrical Engineering, University of Arkansas
Salamo, Gregory
City University of New York, University Arkansas
Мова основного тексту :
English
eKNUTSHIR URL :
DOI :
Конференція/Видання :
Physics and Simulation of Optoelectronic Devices XXIX (SPIE)
Цитування :
Derenko, S., Kondratenko, S., Datsenko, O. et al. (2021). Lateral photoconductivity of GeSn alloys. Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 11680, art. 1168008. DOI: 10.1117/12.2583072
We report a study of the photoconductivity mechanism and transport paths of photoexcited charge carriers in the GeSn/Ge/Si heterostructures. The dark conductivity was studied as a function of temperature, which allowed to identify of the presence of deep levels at EV+(100÷130) meV. We have established that point defects are the source of a band of electronic states and determine the photoconductivity response. The photocurrent dependencies on excitation intensity demonstrate that the main conduction occurs mainly through the Ge layer under low pumping and through the Si substrate under high one, since the GeSn top layer is much thinner has a much higher conductivity. This detailed understanding of the recombination processes is of critical importance for developing GeSn/Ge-based optoelectronic devices.
Ключові слова :
Галузі знань та спеціальності :
104 Фізика та астрономія
Галузі науки і техніки (FOS) :
Фізика конденсованих систем
Оптика
Тип зібрання :
Publication
Файл(и) :
Ескіз недоступний
Формат
Adobe PDF
Розмір :
436.32 KB
Контрольна сума:
(MD5):1fa0df8a16deb7f6044435c6749b8379
Ця робота розповсюджується на умовах ліцензії Creative Commons CC BY-NC-SA
10.1117/12.2583072