Репозитарій КНУ
Увійти(current)
  1. Головна
  2. Наукова періодика | Scientific periodicals
  3. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія фізико-математичні науки | Bulletin of Taras Shevchenko National University of Kyiv. Series: Physics and Mathematics
  4. 2018
  5. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Фізико-математичні науки. Вип. 4
  6. Optical properties of PEDOT:PSS-silicon solar cells

Optical properties of PEDOT:PSS-silicon solar cells

Тип публікації :
Стаття
Дата випуску :
2018
Автор(и) :
Mykytiuk, A. O.
Kondratenko, S. V.
Мова основного тексту :
Англійська
eKNUTSHIR URL :
https://ir.library.knu.ua/handle/15071834/26316
DOI :
10.17721/1812-5409.2018/4.17
Журнал :
Bulletin of Taras Shevchenko National University of Kyiv. Physics and Mathematics  
Випуск :
4
ISSN :
1812-5409
Початкова сторінка :
118
Кінцева сторінка :
121
Цитування :
[APA 7] Mykytiuk, A. O., & Kondratenko, S. V. (2018). Optical properties of PEDOT:PSS-silicon solar cells. Bulletin of Taras Shevchenko National University of Kyiv. Physics and Mathematics, (4), 118–121. https://doi.org/10.17721/1812-5409.2018/4.17
[ДСТУ] Mykytiuk A. O., Kondratenko S. V. Optical properties of PEDOT:PSS-silicon solar cells. Bulletin of Taras Shevchenko National University of Kyiv. Physics and Mathematics. 2018. no. 4. P. 118—121. DOI: 10.17721/1812-5409.2018/4.17 (date of access: 25.07.2026).
We study the optical and electrical losses in PEDOT:PSS/n-Si solar cells using spectroscopic ellipsometry and current-voltage measurements. The optical constants and thickness of the PEDOT:PSS films were studied using spectroscopic ellipsometry performed by a SE-2000 SEMILAB ellipsometer spanning the NIR–VIS–UV range with a resolution of 5 nm. The results were analyzed using a four-layer model involving the ntype silicon (001) substrate, interfacial layer between Si and polymer films, PEDOT:PSS thin film, and a surface roughness layer. The key to understand the origin of the losses is that the studied junctions have an interfacial layer between organic (PEDOT:PSS) and inorganic substrates. The dielectric functions of the PEDOT:PSS were fitted with the known thickness and the assumption of a negligible roughness (i.e. that the roughness is much smaller than the wavelength). Using the complex dielectric function, the optical constants (refractive index n and extinction coefficient k) were calculated. In addition to real and imaginary part of the refractive index, the absorption coefficient was calculated. The produced hybrid solar cells show efficiencies around 7%.Key words: PEDOT:PSS/n-Si solar cells, spectroscopic ellipsometry, interfacial layer, optical constants.Pages of the article in the issue: 118 - 121Language of the article: Ukrainian
Файл(и) :
Вантажиться...
Ескіз
Завантажити
Формат :

Adobe PDF

Розмір :

1.06 MB

Контрольна сума :

(MD5):94ac70d1f91bce2ef5b6db8d0ee571e9

Creative Commons Attribution 4.0 International
Якщо не вказано інше, ця робота розповсюджується на умовах ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International
Контакти
  • ir.library@knu.ua
  • (044) 239-33-30
  • м. Київ, вул. Володимирська, 58, к. 42

Побудовано за допомогою Програмне забезпечення DSpace-CRIS - Розширення підтримується та оптимізується 4Наука

  • Доступність
  • Політика приватності
  • Угода користувача
  • Надіслати відгук