ВИЗНАЧЕННЯ КОНЦЕНТРАЦІЙ ЕЛЕМЕНТІВ-ДОМІШОК У МІКРОКРИСТАЛАХ АКЦЕСОРНИХ МІНЕРАЛІВ МЕТОДОМ РЕНТГЕНО-ФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛІЗУ З МЕТОЮ ДОСЛІДЖЕННЯ ПЕТРОЛОГО-ГЕОХІМІЧНОЇ, ЕНЕРГЕТИЧНОЇ ТА МЕТАЛОГЕНІЧНОЇ ЕВОЛЮЦІЇ ЗЕМНОЇ КОРИ

БУНКЕВИЧ, О., АНДРЕЄВ, О. (2006). DETERMINATION OF THE TRACE ELEMENTS IN THE ACCESSORY MINERAL MICROCRYSTALS USING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS IN ORDER TO PETROLOGICAL, GEOCHEMICAL, ENERGETICAL AND METALOGENIC INVESTIGATION OF THE EARTH CRUST EVOLUTION. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Геологія(37), 23–25.

Розглянуто новий перспективний метод визначення концентрацій елементів-домішок у мікрокристалах акцесорних мінералів - XRF-MP/SG (single grain milliprobe X-ray fluorescence analysis). Метод зіставлений із сучасними локальними методами (ЕMP, PMP, SHRIMP, SXRF, LAM-ICP-MS). Запропоновано шлях вирішення проблеми XRF-MP/SG - залежності флуоресцентного випромінювання не тільки від складу мікрокристалу, а й від форми та розміру зразка, яка впливала на точність аналізу. Продемонстровано можливість використання методу для вирішення важливих теоретичних і прикладних наукових завдань.