БУНКЕВИЧ, О.О.БУНКЕВИЧАНДРЕЄВ, О.О.АНДРЕЄВ2026-05-132026-05-132006БУНКЕВИЧ, О., АНДРЕЄВ, О. (2006). DETERMINATION OF THE TRACE ELEMENTS IN THE ACCESSORY MINERAL MICROCRYSTALS USING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS IN ORDER TO PETROLOGICAL, GEOCHEMICAL, ENERGETICAL AND METALOGENIC INVESTIGATION OF THE EARTH CRUST EVOLUTION. Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Геологія(37), 23–25.https://ir.library.knu.ua/handle/15071834/21367The new promising method of trace element concentration determination in accessory minerals XRF-MP/SG (single grain milliprobe X-ray fluorescence analysis) is considered. The method is compared with the modern microbeam methods (EMP, PMP, SHRIMP, SXRF, LAM-ICP-MS). The solution of XRF-MP/SG problem the x-ray fluorescence dependency on microcrystal composition, form and size is proposed. The possibilities of method application in the solution of the important theoretical and practical scientific problems are demonstrated.Розглянуто новий перспективний метод визначення концентрацій елементів-домішок у мікрокристалах акцесорних мінералів - XRF-MP/SG (single grain milliprobe X-ray fluorescence analysis). Метод зіставлений із сучасними локальними методами (ЕMP, PMP, SHRIMP, SXRF, LAM-ICP-MS). Запропоновано шлях вирішення проблеми XRF-MP/SG - залежності флуоресцентного випромінювання не тільки від складу мікрокристалу, а й від форми та розміру зразка, яка впливала на точність аналізу. Продемонстровано можливість використання методу для вирішення важливих теоретичних і прикладних наукових завдань.ukСтаття